HY（IC)IC卡動態(tài)彎扭試驗機技 術(shù) 參 數(shù):

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗;符合以上標準。

產(chǎn)品用途：

   用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

          夾具安裝尺寸按照國家標準執(zhí)行。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品型號：HY(IC)

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為1mm±0.50mm，

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